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底部填充胶加热之后可以固化，一般固化温度在80℃-150℃。底部填充胶简单来说就是底部填充之义，常规定义是一种用化学胶水（主要成份是环氧树脂）对BGA封装模式的芯片进行底部填充，利用加热的固化形式，将BGA底部空隙大面积(一般覆盖一般覆盖80%以上)填满，从而达到加固的目的，增强BGA封装模式的芯片和PCBA之间的抗跌落性能。底部填充胶还有一些非常规用法，铜陵耐高温单组份环氧胶厂家，是利用一些瞬干胶或常温固化形式胶水在BGA封装模式芯片的四周或者部分角落部分填满，铜陵耐高温单组份环氧胶厂家，从而达到加固目的，铜陵耐高温单组份环氧胶厂家。其应用原理是利用毛细作用使得胶水迅速流入BGA芯片底部芯片底部，其毛细流动的较小空间是10um。海南热固化底填胶膜底部填充胶可以吸收由于冲击或跌落过程中因PCB形变而产生的机械应力。底部填充胶经历了手工—喷涂技术—喷射技术三大阶段。铜陵耐高温单组份环氧胶厂家
底部填充胶流动型空洞的检测方法：一般采用多种施胶图案，或者采用石英芯片或透明基板进行试验是了解空洞如何产生，并如何来消除空洞的直接方法。通过在多个施胶通道中采用不同颜色的下填充材料是使流动过程直观化的理想方法。流动型空洞的消除方法：通常，往往采用多个施胶通道以降低每个通道的填充量，但如果未能仔细设定和控制好各个施胶通道间的时间同步，则会增大引入空洞的几率。采用喷射技术来替代针滴施胶，控制好填充量的大小就可以减少施胶通道的数量，同时有助于有助于对下底部填充胶(underfill)流动进行控制和定位。梅州蓝牙模块芯片填充胶厂家底部填充胶的不固化情况通常是由于胶水的固化温度、时间不够或者是兼容性问题造成的。
一般底部填充胶主要的作用就是解决BGA/CSP芯片与PCB之间的热应力、机械应力集中的问题，因此对底部填充胶而言，重要的可靠性试验是温度循环实验和跌落可靠性实验。通常选择以下评估方法：温度循环实验：制备BGA点胶的PCBA样品，将样品放置-40℃~80℃状态下做温度循环，40℃和80℃温度下各停留30分钟，温度上升/下降时间为30min，循环次数一般不小于500次，实验结束后要求样品测试合格，金相切片观察底部填充胶胶和焊点有无龟裂现象。跌落可靠性试验：制备BGA点胶的PCBA样品，样品跌落高度为1.2m；实验平台为水泥地或者地砖；跌落方向为PCB垂直地面，上下左右4个边循环朝下自由跌落；跌落次数不小于500次。实验结束后要求样品测试合格，金相切片观察底部填充胶胶和焊点有无龟裂现象。
在一块BGA板或芯片的多个侧面进行施胶可以提高underfill底填胶流动的速度，但是这也增大了产生空洞的几率。不同部件的温度差也会影响到胶材料流动时的交叉结合特性和流动速度，因此在测试时应注意考虑温度差的影响。胶体材料流向板上其他元件（无源元件或通孔）时，会造成下底部填充胶材料缺失，这也会造成流动型空洞。采用多种施胶图案，或者采用石英芯片或透明基板进行试验是了解空洞如何产生，并如何来消除空洞的直接的方法。通过在多个施胶通道中采用不同颜色的下填充材料是使流动过程直观化的理想方法。底部填充胶可以在微米级倒装芯片下均匀流动，没有空隙。底部填充胶符合RoHS和无卤素环保规范。
芯片底部填充胶在常温下未固化前是种单组份液态的封装材料，成分主要是环氧树脂并通常会添加固化剂来使液态固化成固态。芯片底部填充胶是专为覆晶晶片而设计的，由于硅质的覆晶晶片的热收缩系数比基板材质低很多，因此，在热循环测试中会发生相对位移，招致机械疲牢从而引起不良焊接。底部填充胶材料通常是应用毛细作用原理来渗透到覆晶晶片底部，然后固化。它能有效的提高焊点的机械强度，从而提高晶片的使用寿命。目前市场上现有的单组份芯片底部填充胶均需冷藏贮存，使用时需从冰箱内取出来回温4小时方可使用，这样就造成了生产效率的降低，而且又需要专业的贮存冰箱，本创造产品解决了冷藏贮存的问题，即可以常温寄存5个月，而且又不影响其固化速度，即可以在150度下60秒钟固化。底部填充胶需要具有良好的流动性，较低的粘度，快速固化。芯片底部填充点胶加工环保，符合无铅要求。汕头蓝牙模块底部填充胶厂家
底部填充胶与锡膏是否兼容，是底部填充胶选择与评估时需要重点关注的项目。铜陵耐高温单组份环氧胶厂家
底部填充胶是提高芯片封装可靠性及使用可靠性的重要电子工艺材料。底部填充胶的主要作用就是解决芯片BGA焊球与PCB板之间的热应力、机械应力集中的问题，因此对胶水来说，其与现有工艺的适配性以及对芯片可靠性能的提升改善程度，按作用力类型，可以从力学环境、气候环境、电应力环境以及综合应力环境4个方向选择合适的试验评估芯片组装的可靠性。通常选择振动、冲击、跌落、热冲击等试验考察样品的可靠性，使用底填胶后，芯片可靠性提升，焊球未见裂纹或开裂。组装过程的流水线作业对底部填充胶施胶后流满芯片底部的时间是有限制的。铜陵耐高温单组份环氧胶厂家
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